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原位拉伸臺(tái)，包括低溫原位拉伸臺(tái)，高溫原位拉伸臺(tái)，是一種研究材料在不同溫度環(huán)境中對(duì)樣品進(jìn)行加載測(cè)試進(jìn)行力學(xué)性能測(cè)試儀器，可與電子掃面顯微鏡、DIC、能譜、光譜、光學(xué)顯微鏡配合使用研究材料微觀形變、裂紋擴(kuò)展、斷裂形貌和溫度等數(shù)據(jù)。文天精策生產(chǎn)的冷熱原位拉伸臺(tái)，采用模塊化設(shè)計(jì)，可在掃描電鏡真空環(huán)境下實(shí)現(xiàn)控溫精度高、升降溫速度快、溫度范圍寬（-190~600℃）、多接口輸出，支持定制。